X-3000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方， 正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。

整机技术规格：

1  激发源：本机采用低功率 X 射线管（Mo靶），最高电压可达50KV，最大电流1mA

2．高压电源：最大50W，50KV，1mA

3．探测器：电制冷  Si PIN半导体探测器（对MnKa线，分辨率优于230KeV）

4．多道分析器：2048道

5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法， 理论a系数法和基本参数法。 定性分析包括： KL线标记， 谱图比较和光标寻峰等 。 客户可进行二次开发 ，自行开发任意多个分析方法。

6．电源：交流220V  50Hz

7．体积：520mm  x  600mm  x  270mm

8．重量：约 42kg  (主机)

整机技术性能：

1．测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量

2．可测量含量范围，从ppm至100%

3．测量速度快，通常为几十秒到几分钟

4．多元素同时定性定量

5．蜂位漂移：八小时小于0.1%

进口探测器的性能指标

1．探测器类型：电制冷Si-PIN

2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm²）

3．硅活化区厚度：300um

4．能量分辨率： 对于⁵⁵Fe，@5.9keV  对于12us的形成时间，半高宽为220Ev

5．探测器窗口：铍窗，25um厚

进口高压电源规格：

1．电压和电流从零至满量程连续可调，最大50KV，1mA.

2．电压调整率：

负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %，

线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为

满量程的0.01%

3．电流调整率：

   负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%

   线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%

4． 稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%

5．温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%